La elipsometría es una técnica óptica empleada en el análisis de superficies. Se basa en la medición de la variación del estado de polarización de la luz después de la reflexión sobre una superficie plana. Las principales ventajas de la elipsometría son su carácter no destructivo y la sencillez en la preparación de muestras para su análisis.

El equipo instalado en el CINN permite realizar además otras caracterizaciones magneto-ópticas como transmitancia óptica y análisis Kerr y Faraday.

Desde el año 2009, el CINN viene empleando la elipsometría así como otras técnicas ópticas y magneto-ópticas relacionadas en el estudio de una amplia variedad de materiales como películas delgadas: metales, semiconductores, dieléctricos y materiales densos: dieléctricos, metales, materiales compuestos, ferromagnéticos.